반디통 용어집

CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'

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쓰기에러허용회수 지우기에러허용회수 - write error allowance erase error allowance

비휘발성 반도체메모리(플래시메모리 등)에 있어서, 쓰기 또는 지우기를 실행에서 허용되는 에러회수.

반/디 용어집 사공정 에싱
범프테스트 기능 - bump test function

시험패턴을 인가하는 중에, 피측정디바이스에 공급되는 전원전압을 변화시키면서 시험하는 기능.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
소켓식 콘택트 - socket type contact

핸들러로 피측정디바이스를 테스트회로와 전기적으로 접속하기 위하여 피측정디바이스의 입출력핀 또는 입출력단자가 삽입된 소켓모양의 부품을 사용한 접촉방식.

반/디 용어집 사공정 핸들링
스캔패스 검사 - scan path test

피측정디바이스 내의 논리회로 플립플롭(flip-flop) 전부를 직렬로 연결하여, 시프트레지스터처럼 동작하게 하고, 이 조합된 회로를 등가회로로 바꾸어서 간단하게 테스트하는 방법.

반/디 용어집 사공정 디버그
상관 - correlation

디바이스의 측정결과가 측정기마다 다를 때에, 측정결과들의 일정한 관계를 분석하는 것.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
아이 다이어그램 마스크검사 - eye diagram mask test

펄스데이터를 검사할 때, 한 개의 데이터도 조정하지 않고, 템플레이트(template)를 사용하여 온갖 조건으로 펄스파형을 일괄검사하는 방식.

반/디 용어집 사공정 혼합형 디버그장치
상향류여과기 - up - flow filter

윗방향으로 물이 흐르도록 하여 청정화하는 여과기. 하향류에 비해, 탁질의 포착량이 많고, 고속으로 여과할 수 있는 등의 장점이 있다.

반/디 용어집 사공정 에싱
스크리닝 - screening

제품의 품질 및 신뢰성 레벨을 얻기 위해, 고장메카니즘에 따라 시험하여, 잠재결함의 제품을 제거하는 것.

반/디 용어집 사공정 에싱
비디오신호 측정기능 - video signal measure - ment

TV, VTR 등의 비디오신호의 파라메터를 측정하는 기능으로 NTSC, PAL, SECAM 신호원, 진폭계, 위상계 등으로 구성.

반/디 용어집 사공정 디버그

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자주 찾는 용어

폰 미제스 응력 - von Mises stress

마찰계수 - friction coefficient

감쇠비 - damping ratio

프란틀 수 - Prandtl number

탄성계수 - elastic modulus

CFL수 - Courant - Friedrichs...

공칭 응력 - nominal stress

최대 전단응력(트레스카) 이론 - maximum...

쓰기에러허용회수 지우기에러허용회수 - write error allowance erase error allowance

범프테스트 기능 - bump test function

소켓식 콘택트 - socket type contact

스캔패스 검사 - scan path test

상관 - correlation

아이 다이어그램 마스크검사 - eye diagram mask test

상향류여과기 - up - flow filter

스크리닝 - screening

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