반디통 용어집

CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'

CAE 용어집

CAE 관련 용어를 확인해 보세요.

반/디 용어집

반도체 / 디스플레이 공정 및 장비 관련 용어를 확인해 보세요.

통신 용어집

통신 분야의 다양한 용어를 확인해 보세요.

All
CAE
반도체∙디스플레이
통신

멀리톤 측정기능 - multi - tone function

피측정디바이스에 여러 개의 정현파를 합성한 신호를 인가하여, 주파수특성(frequency response), 그룹 지연(group delay) 등의 여러 파라메터를 동시에 평가하는 기능.

반/디 용어집 사공정 혼합형 디버그장치
누적가산 - accumulate

동일화소의 데이터를 여러 번 사용하여 프레임메모리 위에 가산하는 것. 이것에 의해 랜덤한 노이즈의 영향을 감소시켜 고정노이즈, 결함데이터 등을 크게한다.

반/디 용어집 사공정 이미지센서 검사장치
규약토여과기 프리코드여과기 - diatomite filter pre - coat filter

규약토(diatomite)를 미리 지지면에 적층시켜(pre-coat), 이 층으로 여과하는 정밀여과기의 일종.

반/디 용어집 사공정 에싱
리프레시 기능 - refresh function

DRAM 기능시험 중에 임의의 간격(interval)로 메모리의 기억유지동작을 실행하는 기능.

반/디 용어집 사공정 refresh function
공간필터 - spatial filtering

화상의 특징 유출 잡음제거, 특징의 선명화, 첨예화를 하기 위해 이용되는 필터. 이차원 화상정보의 가장 기본적인 처리방법의 하나.

반/디 용어집 사공정 spatial filtering
막상(膜狀)프로브카드 - membrane probe card

폴리이미드, 실리콘 등의 막 모양의 기판에 펌프를 형성하여, 패턴 등으로 접속회로를 형성한 카드. 작은 패드, 패드간극이 협소한 웨이퍼에 적당하다.

반/디 용어집 사공정 membrane probe card
데이터레벨 전원 - data level source

피측정디바이스의 기능검사에 있어서, 드라이버에서 출력되는 전압 및 비교기로 비교된 전압의 레벨설정용 전원.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
동적기능검사 - dynamic functional test

시간적으로 변화하는 논리신호를 패턴발생기에서 피측정디바이스에 입력시켜, 이것의 출력특성 및 시간축 특성을 평가하는 시험.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
레이저빔 검사장치 레이저빔 프로버 - laser beam test system laser beam prober

반도체디바이스의 표면에 레이저빔을 조사하는 것에 의하여 외부단자에 표시된 OBIC(광여기전류)에 의하여 피측정디바이스의 내부의 동작을 해석하는 장치.

반/디 용어집 사공정 레이저빔 검사장치

기술용어통 처음으로

반디통 용어집

CAE 용어집

반/디 용어집

통신 용어집

자주 찾는 용어

폰 미제스 응력 - von Mises stress

마찰계수 - friction coefficient

감쇠비 - damping ratio

프란틀 수 - Prandtl number

탄성계수 - elastic modulus

CFL수 - Courant - Friedrichs...

공칭 응력 - nominal stress

최대 전단응력(트레스카) 이론 - maximum...

멀리톤 측정기능 - multi - tone function

누적가산 - accumulate

규약토여과기 프리코드여과기 - diatomite filter pre - coat filter

리프레시 기능 - refresh function

공간필터 - spatial filtering

막상(膜狀)프로브카드 - membrane probe card

데이터레벨 전원 - data level source

동적기능검사 - dynamic functional test

레이저빔 검사장치 레이저빔 프로버 - laser beam test system laser beam prober

더 빠른 설계를 위한 첫 걸음!