반디통 용어집

CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'

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챔버제어기 - chamber controller

항온조(恒溫槽)의 온도제어, 온도계측, 온도이상과 챔버의 트래블 등을 모니터하는 챔버의 제어기.

반/디 용어집 사공정 에싱
클러스터 - cluster

액체로써의 물이, 물분자 단독의 집합체는 아니고, 물분자끼리 수소결합에 의해, (H2O)n에 의한 회합체를 형성하는 상태.

반/디 용어집 사공정 신뢰성 검사
포매터 - formatter

패턴 발생기가 만들어내는 논리데이터와 타이밍 발생기가 만들어내는 타이밍을 합성하여, 피측정디바이스에 인가하는 시험파형을 만들어내는 기능.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
마운터 - mounter

피측정디바이스를, IC소켓과 반송치구(jig) 등의 정해진 장소로 이동시키는 장치.

반/디 용어집 사공정 핸들링
매칭모드 - pattern matching mode

초기상태를 정하지 않은 디바이스의 시험에 있어서, 초기상태설정을 위하여, 한 개 혹은 여러 개의 스텝 패턴을 반복하여 인가하여, 디바이스출력과 원하는 기대값과의 일치 여부을 검출하는 모드.

반/디 용어집 사공정 디버그
동적 전원 전류측정 - dynamic power current measure - ment

피측정디바이스에 시간적으로 변화하는 전원전류를 첨두값(peak), 과도현상(transient response) 등을 측정하는 것.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
디버거 - debugger

테스트 프로그램을 실행시키고 임위의 위치에서(program trap), 변수 내용을 참조하거나, 설정값의 변경하여 프로그램의 버그(bug)를 찾아내는 툴(tool)을 말한다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
드라이버/ 비교기 I/O - driver/ comparator

드라이버와 비교기의 기능을 겸비한 핀일렉트로닉스.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
듀얼타이밍 발생기 - dual timing generator

IC검사에서, 입출력이 비동기 타이밍으로 동작하는 디바이스를 시험하기 위해 비동기 또는 동기 타이밍펄스를 발생시키는 두 위상(dual phase)의 타이밍발생기.

반/디 용어집 기본․공통 사공정

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자주 찾는 용어

폰 미제스 응력 - von Mises stress

마찰계수 - friction coefficient

감쇠비 - damping ratio

프란틀 수 - Prandtl number

탄성계수 - elastic modulus

CFL수 - Courant - Friedrichs...

공칭 응력 - nominal stress

최대 전단응력(트레스카) 이론 - maximum...

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클러스터 - cluster

포매터 - formatter

마운터 - mounter

매칭모드 - pattern matching mode

동적 전원 전류측정 - dynamic power current measure - ment

디버거 - debugger

드라이버/ 비교기 I/O - driver/ comparator

듀얼타이밍 발생기 - dual timing generator

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