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테스트 시뮬레이터 - test simulator

디바이스 프로그램(테스트 프로그램)을 오프라인으로 시뮬레이션하기 위한 소프트웨어 툴(tool). 디바이스 프로그램의 동작확인 및 시험패턴 등의 디버깅(debugging)에 사용된다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
화상데이터 처리기 - image data processor

프레임 메모리를 저장한 화소데이터를 처리하기 위한 전용처리기.

반/디 용어집 사공정 이미지센서 검사장치
제철․제망간장치 - deiron demanganese equipment

원수 중의 철과 망간을 제거하는 장치. 철제거는 공기노출(aeration), 전염소처리와 응집침전여과방식으로 처리한다. 망간제거는 전염소처리 후에 망간접촉여과재를 이용한 접촉여과방식으로 처리한다.

반/디 용어집 사공정
컬럼제어 - column control

전자총, 전자광학계로 구성된 경통(鏡筒)의 캐소드전압, 캐소드온도, 빔스폿 사이즈 등의 제어.

반/디 용어집 사공정 디버그
GO/NO - GO 시험 - GO/NO - GO test

피측정디바이스의 양호․불량만을 판정하는 시험. 측정할 때의 데이터 수집, 데이터 분석 등의 모든 동작을 제외시킨 시험을 가리킨다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
프로브카드 콘택트프로브 - probe card contact probe

프로브로 각 칩의 전극을 테스트회로와 접속하기 위하여 각 전극의 배치에 맞는 도전성의 니들(needle)을 배열한 카드.

반/디 용어집 사공정 핸들링
테스트시스템네트워크 - test system network

반송계 및 측정계에 이르는 도달계 전체의 가동률, 피측정디바이스의 테스트 프로그램 및 수율관리 등을 호스트컴퓨터를 중심으로 실시하는 네트워크. 시스템 단독으로 국소적인 처리를 하는 스탠드아론형 테스팅환경을 탈피하고, 시스템 전체의 생산효율향상을 꾀하도록 구성된다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
파형합성기 HAWG PAWG - waveform synthesizer high frequency (precision) arbitrary wave gererator

멀티톤 신호(multi-tone signal), 모뎀용 변조신호 등 임의의 파형을 발생시키는 합성기. DA변환기와 데이터 저장메모리로 구성되어 있다.

반/디 용어집 사공정 혼합형 디버그장치
ATPG - automatic test program generator

테스터에 필요한 테스트 프로그램을 자동으로 생성하는 방법. 특수한 생성 알고리즘을 사용한 방법과, 장치에 특화(特化)시킨 각종 생성 소프트웨어가 있다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정

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자주 찾는 용어

폰 미제스 응력 - von Mises stress

마찰계수 - friction coefficient

감쇠비 - damping ratio

프란틀 수 - Prandtl number

탄성계수 - elastic modulus

CFL수 - Courant - Friedrichs...

공칭 응력 - nominal stress

최대 전단응력(트레스카) 이론 - maximum...

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테스트시스템네트워크 - test system network

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