반디통 용어집

CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'

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핀멀티플렉스 기능 - pin - multiplex function

2 핀 용량 이상의 하드웨어를 사용하여, 한 사이클 중에 여러 개의 시험 패턴을 특정 핀에 출력시키는 기능. 시험주파수를 의사적(psued)으로 두 배 또는 그 이상으로 하는 것이 가능하게 된다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
DC 측정장치 - DC measure - ment unit

DC 파라메터를 측정하기 위하여 전압원, 전류원, 전압계, 전류계 등으로 구성된 장치.

반/디 용어집 사공정 디버그
테스트사이트 - test - site

피측정디바이스를 검사하기 위하여 정지시킨 후, 콘택트와 접속하는 부분의 총칭

반/디 용어집 사공정 핸들링
자동배기장치 - automatic exhaust air mechanism

번인 중 또는 번인 종료 후에 있어서 피측정디바이스에서의 발열 및 챔버 안에 축적된 열을 자동적으로 챔버 밖으로 배출하여, 챔버온도를 제어하는 장치.

반/디 용어집 사공정 에싱
직접인덱스 기능 샘플링프로브기능 - direct index function sampling probe function

웨이퍼테스트를 실시하기 전에 미리, 측정하려는 칩의 로케이션(좌표)를 테스트시스템 또는 프로버로 설정해두고 테스트할 때 이 데이터를 기초로 설정된 칩만을 처리하는 기능.

반/디 용어집 사공정 핸들링
DART - distribution analysis in real time

테스팅장치에서의 측정데이터와 분석결과를 실시간(real time)으로 해석하는 기능.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
KGD - known good die

사양을 만족하는 양품의 베어칩(bare chip). MCM의 앙품률을 향상시키기 위하여는 KGD를 실장하는 것이 필요하다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
I/Q 위상오차 측정 - IQ phase error measure - ment

디지털신호로 사용되는 PSK, QAM 등 (위상)변조․복조에 있어서, 기준값에 대한 신호의 위상차를 측정하는 것.

반/디 용어집 사공정 혼합형 디버그장치
I/O천이시간 - I/O switching transition

드라이버, 비교기의 두 기능을 구비한 핀일렉트로닉스에 있어서, 드라이버 모드와 비교기 모드로 혹은 반대로 바뀔 때, 걸리는 시간.

반/디 용어집 기본․공통 사공정

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자주 찾는 용어

폰 미제스 응력 - von Mises stress

마찰계수 - friction coefficient

감쇠비 - damping ratio

프란틀 수 - Prandtl number

탄성계수 - elastic modulus

CFL수 - Courant - Friedrichs...

공칭 응력 - nominal stress

최대 전단응력(트레스카) 이론 - maximum...

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I/Q 위상오차 측정 - IQ phase error measure - ment

I/O천이시간 - I/O switching transition

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