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AT 스피드 테스트 - at speed test

피측정디바이스를, 사양(specification)에 규정된 주파수로 기능테스트(function test)를 하는 것.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
SOG 도포 - spin on glass coating

층간 절연막과 평탄화를 위해 사용되는 SOG(Spin-on-Glass)막을 도포하는 것. SiOx를 알콜에 용해시킨 약액(藥液)을 사용하며, 소스라 부른다. 도포 후에, 용제가 휘발시키기 위한 베이킹(baking)과 도포된 물질이 굳게 하기 위한 베이킹(cure라고 부른다. 400。～700。C)을 실시한다. 약액의 점도가 높으므로, 노즐린스(nozzle rinse), 컵린스(cup rinse)가 필요하다.

반/디 용어집 웨이퍼처리공정 박막형성장치
혼상식폴리셔 - mixed bed polisher

혼상식 이온교환탑을 2상3탑형 순수장치 등의 후단으로 설치하여, 순수 중의 미량의 이온을 제거, 폴리싱하는 설비.

반/디 용어집 설비․환경공정 물
CD - ROM(Compact Disc Read Only Memory)

CD-ROM은 디지탈 음악용으로 개발된 CD-DA(CD Digital Audio)를 데이터 저장용으로 사용하는 것으로 600MB 이상의 대용량과 배포의 용이성, 저렴한 생산 원가 등의 장점으로 멀티미디어 데이터 저장 매체로 널리 보급되었다. 이것은 읽을 수만 있고 추가, 삭제등 이미 기록된 정보의 성격을 변경시킬 수 없고 데이터 판독속도가 현저히 느리다는 것이 단점이다.

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표면청정도 - surface cleanliness

표면에 존재하는 미량의 오염물의 측정값. 표면의 깨끗한 정도를 나타낸다. 예를들면 입자오염은 1㎠당 소정의 입자보다 직경이 작은 입자의 부착물 수, 표면금속불순물은 1㎠당 불순물 원자수, 유기분자오염은 1㎠당 중량과 표면피복성 등으로 표시한다.

반/디 용어집 웨이퍼처리공정 습식세정장치
정전기테스터 정전기체커 - static electricity tester

대전체에 발생하는 정전기를 측정하는 간편한 정전기측정기. 대전체에 비접촉으로 측정된 타입과 접촉하여 측정하는 타입이 있다.

반/디 용어집 조립공정 검사평가
CPU Type(intel)

CPU는 컴퓨터의 두뇌이며, 심장부로 가장 중요한 곳이다. 컴퓨터로 계산을 할 때에는 우선 문제를 키보드 등을 통해서 읽어 들인다. 그리고 입력을 통해 들어온 계산문제는 빠른 속도로 컴퓨터에 기억된다. 제어장치는 일정한 순서에 의거하여 기억장치나 연산장치에 지시를 내리고 기억장치에 기억된 숫자를 연산장치에 보내며 연산장치는 계산 문제를 풀이하여 그 결과를 만들어 낸다. 최종적으로 계산된 결과는 모니터 등의 출력장치로 보내어진다. 여기에서 입력.출력장치를 제외한 기억장치, 제어장치, 연산장치를 통털어 중앙처리장치라고 한다.

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ETSI

end system to intermediate system

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LCD마스크형 마커 - LCD mask type maker

LCD 스크린을 마스크로 사용하며, 양쪽 유리사이에 채워져 있는 액정이 편광판 역할을 한다. 글자 등이 새겨진 액정은 레이저 빛이 통하고, 나머지 부분은 통과시키지 않는다.

반/디 용어집 조립공정 마킹

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자주 찾는 용어

폰 미제스 응력 - von Mises stress

마찰계수 - friction coefficient

감쇠비 - damping ratio

탄성계수 - elastic modulus

프란틀 수 - Prandtl number

공칭 응력 - nominal stress

최대 전단응력(트레스카) 이론 - maximum...

CFL수 - Courant - Friedrichs...

AT 스피드 테스트 - at speed test

SOG 도포 - spin on glass coating

혼상식폴리셔 - mixed bed polisher

CD - ROM(Compact Disc Read Only Memory)

표면청정도 - surface cleanliness

정전기테스터 정전기체커 - static electricity tester

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