MIDAS
NFX
MIDAS
MESHFREE
세미나통
CAE 세미나
반디통 세미나
해석지식통
해석사례
기술자료
기술용어통
반디통 용어집
전문가 칼럼
반디통 이야기
반디통 이야기
회사소개
뉴스&이벤트
뉴스레터 구독
체험판 신청
search
menu
통합검색
Search Close
검색
세미나통
CAE 세미나
반디통 세미나
해석지식통
해석사례
기술자료
기술용어통
반디통 용어집
전문가 칼럼
반디통 이야기
반디통 이야기
회사소개
뉴스&이벤트
세미나통
- CAE 세미나
- 반디통 세미나
해석지식통
- 해석사례
- 기술자료
기술용어통
- 반디통 용어집
- 전문가 칼럼
반디통 이야기
- 반디통 이야기
- 회사소개
- 뉴스&이벤트
검사장치 - inspection equipment
기술용어통 반디통 용어집
마스크 블랭크의 모양, 막의 특성, 막 두께, 결함 이물 등을 검사하는 장치인데, 플래트니스 테스터(flatness tester), 간섭계, 광학식 농도계, 가시광선․자외선 분광 광도계, 저외선 분광 광도계, 주사(走査)형 터널전자현미경, 오제(Auger)전자현미경, 촉침식(觸針式)막후(膜厚)계, 에립소메타(ellipsometer), 주사형 전자현미경, EPMA, 이물검사장치 등이 있다.
기술용어통
category-bandi
검사장치
마스크 블랭크 제조
마스크제조공정
inspection equipment
공유하기
공유하기
페이스북
트위터
네이버
링크드인
URL
복사
메일발송
61855258382
목록으로
요소 자유도 - element degree of freedom
PRE
집중질량 - lumped mass
NEXT
시뮬레이션이 처음이라면,
15일간 모든 기능을 무료로 경험하세요
무료로 체험하기
설치 없이 필요한 해석만
빠르게 확인해보세요
30초만에 체험하기
설치 없이 필요한 해석만
빠르게 확인해보세요
30초만에 체험하기