웨이퍼프로버 프로버

반도체 웨이퍼 위에 형성된 IC, LSI 등의 전자회로 칩의 전기적 특성을 효율적으로 시험하기 위하여, 각 칩의 전극에 접촉침을 자동적으로 접촉시켜, 접촉침에 접속된 외부의 테스터에 의한 각 칩의 전기적 시험을 가능하게 하는 것과 함께, 테스터가 불량으로 판정된 칩을 식별 가능하게 하는 장치.