Topic : 균일도평가

  • Wafer 수율 확보를 위한 CFD 적용 방안과 반도체 장비 내부 공정 예측 보고서

    반도체 wafer 수율 향상을 위해 기류해석 및 복합열전달 해석을 진행하여 균일도 평가 및 성능 예측이 가능합니다.

    shape

    1486

    path

    평점 :

    9

    wafer검사장비 균일도평가