웨이퍼 번인 검사 장비는 반도체의 초기 불량을 제거하고 제품의 신뢰성을 높이기 위한 장비입니다. 높은 온도에서 작동하는 장비 내부의 기체 흐름을 파악하고 최적화하기 위한 설계 방안에 대해 알아봅니다.
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평점 :
7
wafer검사장비 CFD
반도체 wafer 수율 향상을 위해 기류해석 및 복합열전달 해석을 진행하여 균일도 평가 및 성능 예측이 가능합니다.
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평점 :
9
wafer검사장비 균일도평가
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