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메모리테스트 패턴 - memory test pattern

불량을 검출하기 위하여, 메모리에 인가된 일련의 패턴으로, 읽고 쓰는 데 필요한 패턴 수는 메모리의 셀 수 N과 관련하여 분류된다. N계 테스트 패턴(N test pattern)은 주로 메모리 셀의 데이터계의 고장검출에 이용되고, MARCHING 패턴 등이 있다. N2계의 테스트패턴은 메모리 셀 간의 간섭에 의해 고장의 검출에 이용되고, GALLOPING 패턴 등이 있다. N2/3계 테스트패턴은 N2계에 비하여 고장검출능력이 낮지만, 패턴수가 비교적 적어서 대용량메모리 LSI의 시험을 단시간에 실시하는 데 유효한 테스트패턴이다.

반/디 용어집 사공정 디버그
샘플 앤드 디퍼런스 - sample and difference

임의의 측정점에 있어서, 시각 의 전압을 샘플앤드홀드(sample and hold)하여, 이 전압과 시각 의 전압과의 차이( )를 측정하는 기능.

반/디 용어집 사공정 디버그
부하전원선 선택릴레이 - load power supply selector

피측정디바이스에 접촉되어 있는 부하의 전원선을 선택하는 릴레이.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
모래여과기 급속여과기 - sand filter rapid sand filter

응집침전장치에서 유츌되어 나오는 작은 프로그를 제거하는 장치. 중력식과 압력식의 2종류가 있어, 여과기의 여과층을 구성하여, 여과재로써는, 유효직경 0.45㎜～0.7㎜의 모래와 0.9～1.2㎜의 안스라사이트(입상무연탄)이 이용되고, 지지재로써는 직경 2～40㎜의 사리(砂利)등이 이용되고 있다.

반/디 용어집 사공정 에싱
순차적 패턴발생기 SQPG - sequential pattern generator

논리소자의 시험에 있어서 미리 저장된 어떤 진리표의 입력과 기대값 데이터의 테스트패턴을 순차적(sequential)으로 발생시키는 발생기. 간단한 시퀀스(straightforward sequence)에 루프명령과 분기명령을 조합하여 다양한 패턴을 발생시킬 수 있다.

반/디 용어집 사공정 디버그
선형검사시스템 아날로그검사시스템 - linear test system analog test system

선형 IC(OP Amp, 레귤레이터, 비교기, 오디오 IC, 비디오 IC 등)의 전기특성을 측정하는 장치.

반/디 용어집 사공정 디버그
빔 제어 - beam control

일차전자빔의 주사를 회전 및 편향하여, 주사형 전자현미경(SEM)의 회전, 이동제어기와 함께, 전자광학계의 대물렌즈의 여자전류를 제어하여 빛을 한 점으로 모으는 것.

반/디 용어집 사공정 디버그
슈퍼버퍼 메모리 SBM HBM - superbuffer memory high speed buffer memory

테스트패턴 메모리에 한번에 수납할 수 없는 장대한 LSI패턴에 대하여, 패턴전송의 오버헤드의 경감을 목적으로 한 서포트메모리(support memory).

반/디 용어집 기본․공통 사공정
멀티플렉서 - multiplexer

신호원, 측정계를 릴레이 등으로 피측정디바이스 단위마다 변환하는 회로

반/디 용어집 기본․공통 사공정

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자주 찾는 용어

폰 미제스 응력 - von Mises stress

마찰계수 - friction coefficient

감쇠비 - damping ratio

프란틀 수 - Prandtl number

탄성계수 - elastic modulus

공칭 응력 - nominal stress

유동박리 - flow separation

CFL수 - Courant - Friedrichs...

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선형검사시스템 아날로그검사시스템 - linear test system analog test system

빔 제어 - beam control

슈퍼버퍼 메모리 SBM HBM - superbuffer memory high speed buffer memory

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