반디통 용어집

레이저발진기에서의 일련의 펄스출력의 첨두값(pick value)이, 일정 시간에 어느정도 변하는가를 나타내는 정도.

두 개의 식의 알고리즘패턴발생기를 탑재한 것.

반도체소자를 항온에서, 정격 또는 정격이상의 전원전압을 인가하여, 디바이스의 입력회로에 실제 동작에 가까운 신호를 인가하면서 스크리닝하는 장치.

이미 알고 있는 시계열의 신호 및 이것과 조합된 신호가 입력될 때, 피측정디바이스의 출력단자에서 예상되는 출력비교용 패턴.

번인제어기, 피측정디바이스전원 등이 부착되어 있으며, 챔버와 전기적인 접속이 가능한 래크. 챔버와 일체형 또는 분리형이 있다.

측정하려는 논리회로의 크기에 따라 SSI/MSI 테스트시스템과 LSI/VLSI 테스트시스템으로 구별되며, 마이크로프로세서 등의 논리기능 및 전기적 특성을 측정하기 위한 장치.

번인보드 위에 있는 다수의 피측정디바이스 중에서, 불량디바이스를 검출하는 방법. X방향과 Y방향에서 2차원적으로 주사하여, 보다 적은 하드웨어자원으로 불량디바이스를 검출할 수 있다.

측정하기 위한 기준이 되는 전원

음성 대역 이상의 주파수 파라메터를 측정하기 위하여 정현파발생원, 진폭계 등으로 구성된 기능.