기술용어통 : CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'

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XY 좌표계 - XY coordinator

웨이퍼 안의 칩 위치(좌표)를 XY의 좌표값으로 표현하는 장치로 프로버에서 테스터로 출력하는 것.

반/디 용어집 사공정 핸들링
SDI - silt density index

공급수의 미량인 탁질을 정량화하는 지표. T0, T1의 측정법은 FI와 동일하지만, T0에서 T1까지의 시간을 5～15분으로 임의로 설정하여, 다음의 식으로 구하여지는 값으로 표시한다. SDI=C2070

반/디 용어집 사공정 신뢰성 검사
캐리어래크 - carrier rack

번인보드를 십～수십장 단위로 수납한 것처럼 수조내에 장착가능한 번인래크.

반/디 용어집 사공정 에싱
DUT 전원 바이어스전원 - DUT power supply

피측정디바이스의 전원으로써 사용되는 장치.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
패턴발생 프로그램 - pattern generation program

LSI용 CAD 시스템 등에서 출력된 시험정보를 기초하여, IC 테스트시스템용의 시험 패턴을 자동으로 생성하는 프로그램.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
출력패턴 센스법 - sensitizing pattern generation method

피측정디바이스에서 예상되는 패턴을 작성하는 방법. 입력패턴을 양품의 피측정디바이스에 인가하여 출력패턴정보를 얻어, 테스트 패턴을 작성하는 방법.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
테스트패턴 메모리 - test pattern memory local memory

논리디바이스의 기능검사에 사용하는 시계열 방향의 테스트패턴을 발생하기 위한 데이터를 저장하는 메모리.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
포고컨택트 포고핀 - POGO contact POGO pin

접촉핀 뒤에 스프링이 있어 완충작용을 하는 접촉침을 말하며, , 기판의 랜드부분에 전기적으로 접속한다.

반/디 용어집 기본․공통 사공정
히스토그램 메모리 - histogram memory

화소데이터의 도수분포와 이 레벨데이터를 저장하는 메모리.

반/디 용어집 사공정 이미지센서 검사장치

기술용어통 처음으로

반디통 용어집

CAE 용어집

반/디 용어집

통신 용어집

자주 찾는 용어

XY 좌표계 - XY coordinator

SDI - silt density index

캐리어래크 - carrier rack

DUT 전원 바이어스전원 - DUT power supply

패턴발생 프로그램 - pattern generation program

출력패턴 센스법 - sensitizing pattern generation method

테스트패턴 메모리 - test pattern memory local memory

포고컨택트 포고핀 - POGO contact POGO pin

히스토그램 메모리 - histogram memory

더 빠른 설계를 위한 첫 걸음!