반디통 용어집

번인을 목적으로 제작된 항온조. 고온에서만 사용할 목적으로 된 것은 번인오븐이라고도 한다. 또, ECL 등의 고발열디바이스의 번인을 목적으로 제작된 번인챔버를 고풍속번인챔버라고 한다.

양․불량을 판정할 때, 시간적인 위치를 정하는 값.

비휘발성 반도체메모리(플래시메모리 등)에 있어서, 쓰기 또는 지우기를 실행한 후, 에러의 회수가 허용 에러회수를 넘는 것.

피측정디바이스의 입력에 대한 출력응답특성을 출력파형의 기울기로 표현하는 것. 일반적으로 아날로그 디바이스의 경우는, V/μs로 표시한다.

리던던트메모리 리페어 시스템에 있어서, 사용하는 레이저 광속(光束)이 가공하려는 지점을 비추는 직경.

여러 개의 피측정디바이스 단자 중에서 측정하고 싶은 단자를 순차적으로 선택하는 기능.

번인보드를 번인챔버 안의 수납하여, 전기적인 접속을 가능하도록 하는 래크.

기능검사에 의한 불량정보를 테스트사이클마다 저장하는 메모리. 즉, 불량해석메모리의 일부를 디바이스의 불량셀 어드레스를 저장하는 메모리를 AFM(address failure memory)라고 하고, 디바이스에 불량이 발생할 때 패턴발생기가 발생한 각종 패턴을 저장하는 메모리를 DFM(data failure memory)라고 한다.

메모리소자의 불량해석방법의 하나. 불량 셀의 위치(어드레스)를 시각적으로 확인할 수 있도록 도시하는 방법 또는 도시된 지도.