반디통 용어집

피측정디바이스를, 사양(specification)에 규정된 주파수로 기능테스트(function test)를 하는 것.

퍼핀테스트시스템(per pin test system)의 테스트헤드에 있어서 디바이스의 핀마다 갖는 측정장치.

번인에 있어서 시험용회로 및 번인챔버 내부와의 인터페이스가 가능한 회로를 탑재한 트레이.

메모리 IC의 평가를 위하여 리드(read) 또는 라이트(write)하는 메모리센서의 어드레스신호를 일정한 연산방법에 기초하여, 순차적으로 발생시킬 수 있는 패턴발생기.

스폿 광을 디바이스의 수광부(受光部)에 조사(照射)할 때, 빛을 받은 화소에서 어떤 거리만큼 떨어진 화소에 흐르는 전하의 양을 측정하는 시험.

여러 개의 전송계에서, 동일한 신호를 전송할 때, 이 신호 사이에 발생하는 위상 또는, 시간이 기대값과 차이가 나는 것. 드라이버계, 비교기 사이의 스큐 등이 있다.

칩 안의 배선이 외부에서의 열 또는 전위에 의한 응력 등으로 파괴되는 스트레스미그레이션의 내성을 평가하는 시험.

피측정디바이스 전원의 바이패스 캐패시터를 개폐하는 릴레이 드라이버.

여러 개의 화소가 배열되어 있을 때, 수평 및 수직방향으로 연속하여 화소결함을 시험하는 것. 화면 위에는 부정형의 면적으로써 확인가능한 크기와 모양, 불량셀에 의한 얼룩, 번짐 등이 있다.