주사형전자현미경 SEM - scanning electron microscope

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00

직경 수 nm의 전자빔이 계통적으로 시료의 위를 제거하고, 빔이 시료와 충돌하는 점에서 발생하는 이차전자와 반사전자의 강도를 일차빔 주사와 동기시켜 기록하는 전자현미경.