기술용어통 : CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'
레지스트레이션 검사 - registration inspection
작성자:
MidasIT 반디통
| 2021. 8. 5 오후 3:00:00
각 포토마스크간 패턴의 상대위치정밀도를 측정(비교검사). 일반적인 디바이스(IC)에 대해 십수 매(枚) 이상의 포토마스크를 필요로 하기 때문에, 각 마스크의 중복 정밀도가 중요하게 된다. 종래에는 비교현미경(마스크비교기)이 사용되어 오다가, 현재에는 패턴의 좌표위치를 절대측정하는 광파간섭식 좌표측정기가 사용되고 있다.
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