웨이퍼테스트 프로브테스트 EDS테스트 - wafer test probe test EDS test

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00

웨이퍼 칩의 본딩패트 위에 프로브침을 접촉시켜 다이(die)의 전기적 시험을 실시하는 것. 이 웨이퍼테스트의 측정결과를 공정에 피드백하여 생산성에서 있어서 수율, 신뢰성의 확보와 동시에 다이의 양품․ 불양품을 선별한다.