스캔디자인 디바이스 측정기능 - test function of scan designed device

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00

순서회로와 조합회로로 이루어진 논리소자의 테스트용이화 방법인 스캔패스 방식(scan path test)을 갖는 디바이스측정기능.