스트레스 미그레이션 시험 - stress migration test

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00

칩 안의 배선이 외부에서의 열 또는 전위에 의한 응력 등으로 파괴되는 스트레스미그레이션의 내성을 평가하는 시험.