기술용어통 : CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'
스캔패스 검사 - scan path test
작성자:
MidasIT 반디통
| 2021. 8. 5 오후 3:00:00
피측정디바이스 내의 논리회로 플립플롭(flip-flop) 전부를 직렬로 연결하여, 시프트레지스터처럼 동작하게 하고, 이 조합된 회로를 등가회로로 바꾸어서 간단하게 테스트하는 방법.
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