복수 스테이션 동기시험 - multi - station synchro - nous probe test

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00

두 대 이상의 테스트헤드를 갖는 테스트시스템에서 여러 장의 웨이퍼를 동시에 측정하는 경우에, 항상 각 웨이퍼의 동일 위치(location)의 칩을 동시에 시험하는 것.