기술용어통 : CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'
LSTD - laser scattering tomography defect
작성자:
MidasIT 반디통
| 2021. 8. 5 오후 3:00:00
레이저 산란 토모그래피법에 의해 검출되는 Si 웨이퍼 속의 미소결함. Si 매트릭스와 미소결함과의 굴절률 차이를 기초로 하여 광산란을 검출한다. 미소한 산소석출물과 공극의 응집체를 미소결함으로써 검출할 수 있다.
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