기술용어통 : CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'

이물검사 - dust paticle inspection contamination inspection

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00
빛의 투과 또는 산란반사 등을 이용하여 기판과 펠리클 위의 이물과 흠을 검사하는 장치.