기술용어통 : CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'
듀얼스캔 더블스캔 - dual scan
작성자:
MidasIT 반디통
| 2021. 8. 5 오후 3:00:00
번인보드 위에 있는 다수의 피측정디바이스 중에서, 불량디바이스를 검출하는 방법. X방향과 Y방향에서 2차원적으로 주사하여, 보다 적은 하드웨어자원으로 불량디바이스를 검출할 수 있다.
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