직접인덱스 기능 샘플링프로브기능 - direct index function sampling probe function

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00

웨이퍼테스트를 실시하기 전에 미리, 측정하려는 칩의 로케이션(좌표)를 테스트시스템 또는 프로버로 설정해두고 테스트할 때 이 데이터를 기초로 설정된 칩만을 처리하는 기능.