기술용어통 : CAE 입문자도 쉽게 이해할 수 있는 '알기 쉬운 기술 용어집'
DUT 피검사디바이스 MUT - device under test memory under test
작성자:
MidasIT 반디통
| 2021. 8. 5 오후 3:00:00
시험대상이 되는 것의 총칭. MUT는 특히, 메모리 IC가 시험대상이 되는 경우를 가리킨다.
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