번인시스템 - burn - in system

작성자: MidasIT 반디통 | 2021. 8. 5 오후 3:00:00

고유결함이 있는 반도체소자 또는, 제조상의 부정합․불량, 시간과 스트레스에 의존하는 고장을 일으키는 디바이스를 제거하기 위하여 일정시간동안 고온, 고전압 등의 스트레스를 주어 스크리닝(screening)시험을 하는 장치.